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分析測量電子元器件過程中產生誤差的原因

來源：http://www.cecs.net.cn 作者：taiheth 2012年11月17

晶振是眾多元器件中的一小部分,測量電子元器件的工作體現在數量大、速度快,在電子元件生產廠中，由于生產的元件數量很大，因此測量的工作量也很大。這就要求測量具有高速度。而電子元件測量是通過電磁波和電子的運動來實現對元件進行測量的，因而可以實現元件測量過程的高速度。

頻率范圍廣泛,電子元件測量的頻率范圍從零到幾十吉赫以上。晶振的頻率從KHZ到MHZ,在不同的頻率范圍內，所采用的測量方
法和測量儀器不同。例如在不同頻率（如高頻、低頻、超低頻）下，對電容器的容量和介質損耗角正切的測量，所采用的測量方法和測量儀器就有所不同。
量程范圍寬
電子元件測量儀表的量程范圍很寬。例如：一只歐姆表可以測量幾歐到幾兆歐的電阻值。
通常測量一些電子元器件會帶來一些誤差,而測量誤差產生的原因是各式各樣的，要完全掌握和消除所有的測量誤差也是不可能的。
研究誤差理論的目的，就是要根據誤差的規律，在一定的測量條件下盡力設法減小誤差，保證研究課題與產品的質量，并根據誤差理論合理地設計和組織實驗，正確地選用儀器、儀表和測量方法，正確地進行測量
一、測量誤差的來源
裝置誤差
由測量儀器和設備所引入的誤差即為裝置誤差。例如電橋中的標準電阻，天平的砝碼，示波器的探極線等都含有誤差。儀器、儀表的零位偏移、刻度不準確以及非線性等引起的誤差均屬此類。
環境誤差
環境誤差是指由環境條件與所要求的標準狀態不一致等造成的誤差，主要是外界的溫度、濕度、氣壓、電磁場、輻射等影響所產生的誤差。例如，數字式電壓表的技術指標中常常單獨給出的溫度影響誤差就屬于此類。
方法誤差
方法誤差是指測量時使用的方法不完善，或者依據的理論不嚴密，采用近似公式，對某些經典測量方法作不適當的修改等所產生的誤差。
人身誤差
由于測量者的分辨能力、視覺疲勞、固有習慣或缺乏責任心等引起的誤差稱為人身誤差。例如讀錯刻度，念錯讀數，操作不當等。這種誤差往往因人而異。在測量工作中，對于誤差的來源必須認真分析，采取相應措施，以減小誤差對測量結果的影響。

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